Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora

La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr

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Opis bibliograficzny
1. autor: Herrera García, Jesús Rigoberto
Kolejni autorzy: Radnev Nedev, Nicola
Język:spa
Wydane: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
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id repositorioinstitucional-20.500.12930-1579
record_format dspace
spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-15792023-05-14T15:26:16Z Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora Herrera García, Jesús Rigoberto Radnev Nedev, Nicola Curiel Álvarez, Mario Alberto Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas TK7871.15.F5 H47 2015 Semiconductores Tesis y disertaciones académicas Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr 2021-05-22T04:20:11Z 2021-05-22T04:20:11Z 2015 https://hdl.handle.net/20.500.12930/1579 spa https://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTS3lSdGJhTmN4ZDg/view?usp=sharing http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 1 recurso en línea (132 p. : il., gráficas) pdf application/pdf Mexicali, Baja California Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
institution Repositorio Institucional
collection DSpace
language spa
topic Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas
TK7871.15.F5 H47 2015
Semiconductores Tesis y disertaciones académicas
Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas
spellingShingle Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas
TK7871.15.F5 H47 2015
Semiconductores Tesis y disertaciones académicas
Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas
Herrera García, Jesús Rigoberto
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
description La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr
author2 Radnev Nedev, Nicola
author_facet Radnev Nedev, Nicola
Herrera García, Jesús Rigoberto
author Herrera García, Jesús Rigoberto
author_sort Herrera García, Jesús Rigoberto
title Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
title_short Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
title_full Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
title_fullStr Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
title_full_unstemmed Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
title_sort caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
publisher Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
publishDate 2021
_version_ 1792610139461648384