Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora
La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr
Zapisane w:
1. autor: | |
---|---|
Kolejni autorzy: | |
Język: | spa |
Wydane: |
Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
2021
|
Hasła przedmiotowe: | |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
id |
repositorioinstitucional-20.500.12930-1579 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
repositorioinstitucional-20.500.12930-15792023-05-14T15:26:16Z Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora Herrera García, Jesús Rigoberto Radnev Nedev, Nicola Curiel Álvarez, Mario Alberto Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas TK7871.15.F5 H47 2015 Semiconductores Tesis y disertaciones académicas Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr 2021-05-22T04:20:11Z 2021-05-22T04:20:11Z 2015 https://hdl.handle.net/20.500.12930/1579 spa https://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTS3lSdGJhTmN4ZDg/view?usp=sharing http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 1 recurso en línea (132 p. : il., gráficas) pdf application/pdf Mexicali, Baja California Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. |
institution |
Repositorio Institucional |
collection |
DSpace |
language |
spa |
topic |
Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas TK7871.15.F5 H47 2015 Semiconductores Tesis y disertaciones académicas Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas |
spellingShingle |
Semiconductores de películas delgadas Tesis y disertaciones académicas TK7871.15.F5 H47 2015 Semiconductores Tesis y disertaciones académicas Microelectrónica Tesis y disertaciones académicas Herrera García, Jesús Rigoberto Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
description |
La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr |
author2 |
Radnev Nedev, Nicola |
author_facet |
Radnev Nedev, Nicola Herrera García, Jesús Rigoberto |
author |
Herrera García, Jesús Rigoberto |
author_sort |
Herrera García, Jesús Rigoberto |
title |
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
title_short |
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
title_full |
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
title_fullStr |
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
title_full_unstemmed |
Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
title_sort |
caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora |
publisher |
Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. |
publishDate |
2021 |
_version_ |
1792610139461648384 |