Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Herrera García, Jesús Rigoberto
Outros Autores: Radnev Nedev, Nicola
Idioma:spa
Publicado em: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
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