Caracterización estructural y por espectroscopías elipsométrica y raman de películas delgadas para aplicaciones en la industria semiconductora

La industria microelectrónica es una de las más generosas del mercado actual. No sólo por que se han desarrollado instrumentos, aparatos y dispositivos de alta tecnología, sino porque el diseño de ellos conlleva a un análisis teórico muy interesante, sobr

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Библиографические подробности
Главный автор: Herrera García, Jesús Rigoberto
Другие авторы: Radnev Nedev, Nicola
Язык:spa
Опубликовано: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
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