Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alaniz Plata, Rubén
Otros Autores: Martínez Alvarado, Luis Arturo
Lenguaje:spa
Publicado: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
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Descripción
Sumario:El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f