Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

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Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Alaniz Plata, Rubén
Andre forfattere: Martínez Alvarado, Luis Arturo
Sprog:spa
Udgivet: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
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