Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Alaniz Plata, Rubén
מחברים אחרים: Martínez Alvarado, Luis Arturo
שפה:spa
יצא לאור: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
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