Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

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El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Alaniz Plata, Rubén
מחברים אחרים: Martínez Alvarado, Luis Arturo
שפה:spa
יצא לאור: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
נושאים:
QH212 .A78 A53 2019
Microscopía de fuerza atómica Tesis y disertaciones académicas
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