Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

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書誌詳細
第一著者: Alaniz Plata, Rubén
その他の著者: Martínez Alvarado, Luis Arturo
言語:spa
出版事項: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
主題:
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