Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica

El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins- trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las f

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主要作者: Alaniz Plata, Rubén
其他作者: Martínez Alvarado, Luis Arturo
语言:spa
出版: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería 2021
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