Estudio de errores de medición en las técnicas de extracción de los parámetros de ruido en transistores de microondas

Uno de los parámetros que define la calidad de la información trasmitida por un sistema de comunicación es la razón señal a ruido, usualmente conocida como S/N. Esta cantidad es determinada en parte por el primer amplificador de Radio Frecuencia en el sis

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Autor principal: Hernández Camiro, Rosa María Victoria
Otros Autores: Hernández Balbuena, Daniel
Lenguaje:spa
Publicado: Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería. 2021
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spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-29682023-05-14T16:53:31Z Estudio de errores de medición en las técnicas de extracción de los parámetros de ruido en transistores de microondas Hernández Camiro, Rosa María Victoria Hernández Balbuena, Daniel TK7867.5 H47 2006 Ruido electrónico Tesis y disertaciones académicas Control del ruido Modelos matemáticos Tesis y disertaciones académicas Uno de los parámetros que define la calidad de la información trasmitida por un sistema de comunicación es la razón señal a ruido, usualmente conocida como S/N. Esta cantidad es determinada en parte por el primer amplificador de Radio Frecuencia en el sis 2021-05-22T04:36:58Z 2021-05-22T04:36:58Z 2006 https://hdl.handle.net/20.500.12930/2968 spa https://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTcXBuUXc2V2ljMm8/view?usp=sharing http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 1 recurso en línea (65 p. : gráficas) pdf application/pdf Mexicali, Baja California Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería.
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Hernández Camiro, Rosa María Victoria
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