Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :

Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :

La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta

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Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Herrera García, Jesús Rigoberto
Andere auteurs: Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia
Taal:spa
Gepubliceerd in: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
Onderwerpen:
Microscopios de fuerza atómica Tesis y disertaciones académicas
QH212.A78 H477 2011
Microscopios Tesis y disertaciones académicas
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spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-31582023-05-14T16:56:26Z Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica : Herrera García, Jesús Rigoberto Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia Microscopios de fuerza atómica Tesis y disertaciones académicas QH212.A78 H477 2011 Microscopios Tesis y disertaciones académicas La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta 2021-05-22T04:38:14Z 2021-05-22T04:38:14Z 2011 https://hdl.handle.net/20.500.12930/3158 spa https://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTTXhuMVR0cjFhSDA/view?usp=sharing http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 1 recurso en línea (67 p. : il. col., gráficas) pdf application/pdf Mexicali, Baja California Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
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