Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :
La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta
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প্রধান লেখক: | Herrera García, Jesús Rigoberto |
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অন্যান্য লেখক: | Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia |
ভাষা: | spa |
প্রকাশিত: |
Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
2021
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বিষয়গুলি: | |
ট্যাগগুলো: |
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অনুরূপ উপাদানগুলি
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অনুযায়ী: Molina Saldivar, Héctor Iván
প্রকাশিত: (2021) -
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অনুযায়ী: Alaniz Plata, Rubén
প্রকাশিত: (2021) -
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প্রকাশিত: (2021) -
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প্রকাশিত: (2021) -
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প্রকাশিত: (2021)