Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :
La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta
保存先:
第一著者: | Herrera García, Jesús Rigoberto |
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その他の著者: | Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia |
言語: | spa |
出版事項: |
Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería.
2021
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主題: | |
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