Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :

La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Herrera García, Jesús Rigoberto
অন্যান্য লেখক: Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia
ভাষা:spa
প্রকাশিত: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
বিষয়গুলি:
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!