Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :

La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta

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書誌詳細
第一著者: Herrera García, Jesús Rigoberto
その他の著者: Alvarez Camacho, Guadalupe Lydia
言語:spa
出版事項: Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería. 2021
主題:
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