Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

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Autor principal: Alcaraz Santillán, Abelardo
Lenguaje:spa
Publicado: 2021
Materias:
QD40 A52 2013
Química Tesis y disertaciones académicas
Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
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spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-51322023-05-14T21:25:33Z Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado Alcaraz Santillán, Abelardo QD40 A52 2013 Química Tesis y disertaciones académicas Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas 2021-05-23T02:00:27Z 2021-05-23T02:00:27Z 2013 https://hdl.handle.net/20.500.12930/5132 spa https://drive.google.com/open?id=0B07Wz0dDs1vFMW8tVF81dWtzRzg. http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 Recurso en línea. (70 p.) : il., col. pdf application/pdf Tijuana, Baja California
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