Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Alcaraz Santillán, Abelardo
Hizkuntza:spa
Argitaratua: 2021
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!