Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

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Auteur principal:	Alcaraz Santillán, Abelardo
Langue:	spa
Publié:	2021
Sujets:	QD40 A52 2013 Química Tesis y disertaciones académicas Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
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