Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

Gardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Alcaraz Santillán, Abelardo
Idioma:	spa
Publicado:	2021
Materias:	QD40 A52 2013 Química Tesis y disertaciones académicas Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
Etiquetas:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Títulos similares