Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Alcaraz Santillán, Abelardo
שפה:	spa
יצא לאור:	2021
נושאים:	QD40 A52 2013 Química Tesis y disertaciones académicas Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים