Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Alcaraz Santillán, Abelardo
Język:spa
Wydane: 2021
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!