Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado

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Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Alcaraz Santillán, Abelardo
Idioma:	spa
Publicado em:	2021
Assuntos:	QD40 A52 2013 Química Tesis y disertaciones académicas Microscopia Electrónica Tesis y disertaciones académicas
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