Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Pasten Espinoza, Raúl
Hizkuntza:spa
Argitaratua: 2021
Gaiak:
Aeroespacial
TK7874 P38 2017
Etiketak: Etiketa erantsi
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spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-49892023-05-14T21:24:48Z Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales / Pasten Espinoza, Raúl Aeroespacial TK7874 P38 2017 2021-05-23T01:56:43Z 2021-05-23T01:56:43Z 2017 https://hdl.handle.net/20.500.12930/4989 spa https://drive.google.com/open?id=1jLVDOPLVBPmhhoA-WQi18LGpUssFe-Qy http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 Recurso en línea. pdf application/pdf Tijuana, Baja California
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