Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Język: | spa |
| Wydane: |
2021
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!
@UABCInstitucional
UABC_Oficial
@UABC_Oficial
Tel: +52 686 551 82 00
cienciaabierta@uabc.edu.mx