Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| اللغة: | spa |
| منشور في: |
2021
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
@UABCInstitucional
UABC_Oficial
@UABC_Oficial
Tel: +52 686 551 82 00
cienciaabierta@uabc.edu.mx