Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Γλώσσα: | spa |
Έκδοση: |
2021
|
Θέματα: | |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|