Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Pasten Espinoza, Raúl
Hizkuntza:spa
Argitaratua: 2021
Gaiak:
Aeroespacial
TK7874 P38 2017
Etiketak: Etiketa erantsi
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