Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
Guardado en:
| Príomhúdar: | |
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| Teanga: | spa |
| Foilsithe: |
2021
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| Ábhair: | |
| Clibeanna: |
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