Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Pasten Espinoza, Raúl
Taal:spa
Gepubliceerd in: 2021
Onderwerpen:
Aeroespacial
TK7874 P38 2017
Tags: Voeg label toe
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