Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica

El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr

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المؤلف الرئيسي: Pont de la Torre, Ulises Augusto
مؤلفون آخرون: Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio
اللغة:spa
منشور في: 2021
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id repositorioinstitucional-20.500.12930-553
record_format dspace
spelling repositorioinstitucional-20.500.12930-5532023-05-14T18:48:51Z Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica Pont de la Torre, Ulises Augusto Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio Martínez Rosas, Miguel Enrique Nanolitografía Ingeniería Tesis y disertaciones académicas TK7874.843 P65 2017 El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr 2021-05-22T03:56:20Z 2021-05-22T03:56:20Z 2017 https://hdl.handle.net/20.500.12930/553 spa https://drive.google.com/file/d/1xeU1lngVFn5VgLbbdJnvuadEeVy-1FYt/view?usp=sharing http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 1 recurso en línea, 39 p. : il. pdf application/pdf Ensenada, Baja California
institution Repositorio Institucional
collection DSpace
language spa
topic Nanolitografía
Ingeniería
Tesis y disertaciones académicas
TK7874.843 P65 2017
spellingShingle Nanolitografía
Ingeniería
Tesis y disertaciones académicas
TK7874.843 P65 2017
Pont de la Torre, Ulises Augusto
Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
description El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr
author2 Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio
author_facet Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio
Pont de la Torre, Ulises Augusto
author Pont de la Torre, Ulises Augusto
author_sort Pont de la Torre, Ulises Augusto
title Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
title_short Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
title_full Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
title_fullStr Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
title_full_unstemmed Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
title_sort sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
publishDate 2021
_version_ 1792610446765719552