Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Pont de la Torre, Ulises Augusto |
---|---|
অন্যান্য লেখক: | Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio |
ভাষা: | spa |
প্রকাশিত: |
2021
|
বিষয়গুলি: | |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
অনুযায়ী: Pasten Espinoza, Raúl
প্রকাশিত: (2021) -
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
অনুযায়ী: Alcaraz Santillán, Abelardo
প্রকাশিত: (2021) -
Simulación numérica de una sistema de microscopía de fuerza atómica utilizando discretización por diferencias finitas
অনুযায়ী: Molina Saldivar, Héctor Iván
প্রকাশিত: (2021) -
Implementación de la metodología en la utilización de la identificación única de PCB basado en código 2D utilizados en la industria microelectrónica en Mexicali /
অনুযায়ী: Villarreal González, Yanet
প্রকাশিত: (2021) -
Fotometría Stromgren de estrellas binarias cataclísmicas /
অনুযায়ী: Michel Murillo, Raul
প্রকাশিত: (2022)