Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica

El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Pont de la Torre, Ulises Augusto
Další autoři: Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio
Jazyk:spa
Vydáno: 2021
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!