Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr
Salvato in:
Autore principale: | Pont de la Torre, Ulises Augusto |
---|---|
Altri autori: | Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio |
Lingua: | spa |
Pubblicazione: |
2021
|
Soggetti: | |
Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
Documenti analoghi
-
Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
di: Pasten Espinoza, Raúl
Pubblicazione: (2021) -
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
di: Alcaraz Santillán, Abelardo
Pubblicazione: (2021) -
Simulación numérica de una sistema de microscopía de fuerza atómica utilizando discretización por diferencias finitas
di: Molina Saldivar, Héctor Iván
Pubblicazione: (2021) -
Implementación de la metodología en la utilización de la identificación única de PCB basado en código 2D utilizados en la industria microelectrónica en Mexicali /
di: Villarreal González, Yanet
Pubblicazione: (2021) -
Fotometría Stromgren de estrellas binarias cataclísmicas /
di: Michel Murillo, Raul
Pubblicazione: (2022)