Sistema de control para la realización de nanolitografía mediante microscopía de fuerza atómica
El presente trabajo tiene como objetivo implementar un sistema que permitarealizar litografía ferroeléctrica a escala nanométrica en el microscopio de barrido por sonda (SPM, por sus siglas en inglés) modelo XE-70 de la compañía Park Systems. Para lograr
Na minha lista:
Autor principal: | Pont de la Torre, Ulises Augusto |
---|---|
Outros Autores: | Murillo Bracamontes, Eduardo Antonio |
Idioma: | spa |
Publicado em: |
2021
|
Assuntos: | |
Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registros relacionados
-
Obtención de los parámetros en el análisis de los blancos de Si-Al para la deposición de películas delgadas de SiAlON mediante la técnica de sputtering para aplicaciones aeroespaciales /
por: Pasten Espinoza, Raúl
Publicado em: (2021) -
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
por: Alcaraz Santillán, Abelardo
Publicado em: (2021) -
Simulación numérica de una sistema de microscopía de fuerza atómica utilizando discretización por diferencias finitas
por: Molina Saldivar, Héctor Iván
Publicado em: (2021) -
Implementación de la metodología en la utilización de la identificación única de PCB basado en código 2D utilizados en la industria microelectrónica en Mexicali /
por: Villarreal González, Yanet
Publicado em: (2021) -
Fotometría Stromgren de estrellas binarias cataclísmicas /
por: Michel Murillo, Raul
Publicado em: (2022)